- Podrobnosti
-
Vytvořeno 05. leden 2010
-
Napsal Redakce
Rastrovací mikroskopy umožňují nejen zobrazovat a charakterizovat jednotlivé atomy na povrchu pevných látek, ale také s nimi manipulovat. Tento vědecký objev otvírá zcela nové možnosti charakterizace pevných látek na atomární úrovni a hraje zásadní roli třeba v nanotechnologiích či v molekulární a buněčné biologii.
Český člen týmu
Pavel Jelínek z Fyzikálního ústavu AV uskutečnil sérii experimentálních měření, která umožnila hlubší vhled do původu atomárního kontrastu Kelvinovou sondou.
Zdroj: ČTK. SLAVÍK, Benjamin.
Vědci objevili nové možnosti zobrazení jednotlivých atomů pomocí rastrovacího mikroskopu. DigiWeb.iHNed.cz [online] <
http://digiweb.ihned.cz/>
Facebook komentáře